基于YOLOv8的PCB表面缺陷檢測輕量化研究

摘要： 目的 針對印制電路板（PCB）表面缺陷檢測模型較大和速度慢的問題，提出一種基于YOLOv8的PCB輕量化表面缺陷檢測框架EYOLOv8。方法 該框架以YOLOv8網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)為基礎，使用RevCol網(wǎng)絡特征融合思想重構(gòu)網(wǎng)絡主干，引入Slim-neck設計思想重構(gòu)頸部結(jié)構(gòu)，使用卷積權(quán)重參數(shù)共享的機制重構(gòu)檢測頭結(jié)構(gòu)，在保持精度基本不變的同時，對整體網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)進行了輕量優(yōu)化設計，最終使用W...