一種用于CIS列級(jí)ADC的片上抗PVT變化高精度自適應(yīng)斜坡發(fā)生器

摘要： 傳統(tǒng)的片上全局斜坡發(fā)生器電路容易受工藝、電壓和溫度(PVT)的影響，導(dǎo)致斜坡信號(hào)易失真、線性度差；由于寄生電容的影響，片外校準(zhǔn)的難度較大。提出了一種可以抗PVT變化，實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)校準(zhǔn)斜率的斜坡發(fā)生器，采用逐次逼近算法細(xì)調(diào)和定步長(zhǎng)搜索法微調(diào)相結(jié)合的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)斜坡的兩點(diǎn)校正。斜坡校準(zhǔn)電路包括電阻型DAC、電流型DAC、邏輯控制、動(dòng)態(tài)比較器等模塊。仿真結(jié)果表明，自適應(yīng)斜坡發(fā)生器的平均...