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基于實(shí)驗(yàn)室光源的透射X射線納米分辨顯微鏡研制

物理學(xué)報(bào) 頁數(shù)： 9 2024-08-09
摘要： 透射X射線顯微鏡(transmission X-ray microscope, TXM)是高精密度的尖端X射線成像設(shè)備,是現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的結(jié)晶,可以在納米尺度上進(jìn)行無損成像,為物理學(xué)、生命科學(xué)、材料學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域的眾多科學(xué)問題提供了有力的研究工具.雖然國內(nèi)外很多同步輻射裝置都建立了以TXM為核心的納米CT實(shí)驗(yàn)站,但是目前國際上只有個(gè)別企業(yè)能提供商業(yè)化的實(shí)驗(yàn)室TXM.究其原因,主要... （共9頁）

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