掃描近場光學顯微術的研究進展（特邀）

摘要： 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）因其具有可達10 nm量級的超高光學分辨率與光譜分析能力，為物理、化學、材料科學和生命科學等領域的若干重要前沿基礎科學問題提供了強有力的高時空分辨的光學表征工具。本文聚焦高分辨SNOM技術近期的研究進展，首先回顧了SNOM成像技術的基本原理和SNOM探針的發(fā)展歷史。接著重點介紹了將SNOM成像技術應用于研究微納尺度上光與原子、分子、二維材料、生物大... （共14頁）