多負載環(huán)境下微加速度計的可靠性建模與分析

摘要： 針對多負載環(huán)境下微電子機械系統(tǒng)(MEMS)微加速度計易出現(xiàn)的敏感結構斷裂及材料疲勞退化問題，提出了一種基于全概率理論的微加速度計可靠度預估模型。該模型結合齊次泊松過程和Wiener退化過程，分別表征單位時間內作用在微加速度計上的沖擊載荷次數(shù)以及器件在振動負載下的疲勞退化過程，完成了微加速度計在廣義極端沖擊、廣義δ-沖擊和廣義混合沖擊條件下的可靠度建模。對比分析了三種模型預估的可...