ViT和注意力融合的類(lèi)別不均衡PCB缺陷檢測(cè)方法

摘要： 針對(duì)實(shí)際環(huán)境下印刷電路板(PCB)缺陷樣本難以收集造成的數(shù)據(jù)長(zhǎng)尾分布和檢測(cè)精度低以及ViT用于檢測(cè)時(shí)計(jì)算復(fù)雜度高等問(wèn)題,提出多尺度ViT特征提取和注意力特征融合的端到端PCB缺陷檢測(cè)算法。首先結(jié)合ViT和部分卷積構(gòu)建多尺度特征提取網(wǎng)絡(luò),利用層級(jí)多頭注意力對(duì)不同尺度的特征圖執(zhí)行自適應(yīng)的注意力操作,使網(wǎng)絡(luò)能夠更好地捕捉局部和全局信息進(jìn)而增強(qiáng)其特征提取能力,部分卷積可以降低計(jì)算開(kāi)銷(xiāo)。...