基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測算法

摘要： 針對液晶屏顯示缺陷中微弱特征缺陷經(jīng)多次卷積與背景紋理同化導致的檢測精度低的問題，提出了一種基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測改進模型YOLO-Mura。首先，在主干網(wǎng)絡中引入Involution算子擴大感受野，增強在空間范圍內(nèi)的微弱特征缺陷信息，并降低模型的浮點運算次數(shù)。其次，采用CARAFE上采樣算子優(yōu)化上采樣方式，加強對微弱特征缺陷的關(guān)注能力。然后，在頸部網(wǎng)絡，通過嵌...