彈載芯片在強(qiáng)沖擊環(huán)境下的損傷邊界
探測(cè)與控制學(xué)報(bào)
頁數(shù): 7 2024-04-26
摘要: 針對(duì)彈載芯片結(jié)構(gòu)在強(qiáng)機(jī)械沖擊環(huán)境下沖擊響應(yīng)譜損傷邊界不確定和不準(zhǔn)確的問題,將芯片等效為單自由度無阻尼系統(tǒng)并進(jìn)行沖擊響應(yīng)分析,建立結(jié)構(gòu)應(yīng)力響應(yīng)與偽速度沖擊響應(yīng)譜之間的聯(lián)系;對(duì)彈載芯片結(jié)構(gòu)在不同頻率范圍內(nèi)沖擊載荷下的響應(yīng)進(jìn)行分析,構(gòu)造損傷邊界并通過臨界加速度信號(hào)對(duì)沖擊響應(yīng)譜損傷邊界進(jìn)行修正;采用有限元仿真軟件對(duì)沖擊載荷下的彈載芯片結(jié)構(gòu)進(jìn)行仿真分析,結(jié)果表明,臨界應(yīng)力值與修正后損傷邊...