Anger-camera型中子探測(cè)器位置分辨性能研究
核科學(xué)與工程
頁數(shù): 10 2024-02-15
摘要: 本文描述用于中國(guó)散裂中子源(CSNS)譜儀上,基于Anger-camera位置重建原理的閃爍體中子探測(cè)器樣機(jī)位置分辨性能研究。在BL20中子測(cè)試束線上完成了探測(cè)器關(guān)鍵器件性能測(cè)試,包括硅光電倍增管(Silicon Photon Multiplier Tube, SiPM)陣列位置重建能力測(cè)試和耐輻照特性研究,同時(shí)對(duì)不同光導(dǎo)厚度下探測(cè)器位置分辨能力開展測(cè)試,發(fā)現(xiàn)基于SiPM陣列讀... (共10頁)