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空間引力波探測(cè)系統(tǒng)中超光滑光學(xué)元件表面散射特性分析

光電工程 頁(yè)數(shù)： 12 2023-11-25
摘要： 在引力波探測(cè)系統(tǒng)中，超光滑光學(xué)元件表面散射特性對(duì)高精度引力波測(cè)量至關(guān)重要。本文針對(duì)超光滑光學(xué)元件，建立了一種能快速準(zhǔn)確地分析和預(yù)測(cè)其表面散射特性的非傍軸標(biāo)量散射模型Generalized Beckmann-Kirchhoff (GBK)。在此基礎(chǔ)上，研究了入射角度、散射方位角對(duì)P偏振和S偏振入射光的角分辨散射分布的影響，以及入射角度、散射方位角、自相關(guān)長(zhǎng)度、斜率、截止頻率以及表...

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