采用數(shù)據(jù)降維的固態(tài)硬盤(pán)故障檢測(cè)方法

摘要： 針對(duì)固態(tài)硬盤(pán)SMART數(shù)據(jù)包含大量高維數(shù)據(jù)特征導(dǎo)致故障檢測(cè)準(zhǔn)確率不理想的問(wèn)題，結(jié)合固態(tài)硬盤(pán)SMART數(shù)據(jù)的時(shí)序特點(diǎn)，基于門(mén)控循環(huán)單元對(duì)傳統(tǒng)自動(dòng)編碼器的結(jié)構(gòu)做了改進(jìn)，提出了一種基于門(mén)控循環(huán)單元稀疏自動(dòng)編碼器降維的固態(tài)硬盤(pán)故障檢測(cè)方法(GAL)。首先利用固態(tài)硬盤(pán)SMART數(shù)據(jù)訓(xùn)練GRUAE模型，然后利用GRUAE模型中的編碼器作為降維的工具，對(duì)固態(tài)硬盤(pán)的原始高維SMART數(shù)據(jù)進(jìn)行降...