2.HIE患兒的腦功能監(jiān)測方法各有何特點?
兒科學(xué)

        缺氧缺血后,由于腦細胞受損,腦功能發(fā)生迅速改變,往往先于腦形態(tài)結(jié)構(gòu)的變化,故對腦功能狀態(tài)的檢查及監(jiān)測,較影像檢查能更早、更精確地了解腦損害的發(fā)生及嚴(yán)重程度。常用的腦功能監(jiān)測技術(shù)有下列幾項:[4,5]　　　(1)　腦電圖(E    （共 746 字）     [閱讀本文] >>