第一節(jié) 其他類設(shè)備電暈放電類型及原因分析
電力設(shè)備紫外檢測(cè)圖譜

        主要包括實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的試驗(yàn)、二次端子及其他電氣設(shè)備類的異常放電,放電原因復(fù)雜多樣,本章主要描述以下原因造成的放電圖譜:(1)實(shí)驗(yàn)室人為造成的異常放電;(2)低壓二次端子由于接觸不良造成場(chǎng)強(qiáng)集中點(diǎn);(3)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)(或者實(shí)驗(yàn)室)中    （本文共 127 字 ）    [閱讀本文] >>