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醫(yī)學生物電子顯微鏡 共有 229 個詞條內容

電器系統(tǒng)

    電子顯微鏡的電器系統(tǒng)(electronsystem)主要有以下幾部分組成:(一)高壓發(fā)生器高壓發(fā)生器是為電鏡提供高壓的裝置,由一個高壓油箱或氟里昂氣箱和高壓電纜組成,為發(fā)射的電子提供加速能量。其穩(wěn)定性直接影響電鏡的質量。一般輸出的...[繼續(xù)閱讀]

醫(yī)學生物電子顯微鏡

工作原理

    掃描電鏡的工作原理可見圖2-3,主要是利用二次電子成像,其成像原理完全不同于透射電鏡。掃描電鏡的工作原理實際上與電視或電傳真照片原理相似。由聚光鏡和物鏡組成的電子光學系統(tǒng),將電子槍發(fā)射出的電子聚集成一極細的電子...[繼續(xù)閱讀]

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掃描電鏡的特點和應用

    掃描電鏡之所以能夠在許多領域內得到廣泛的應用,主要是掃描電鏡有許多突出的優(yōu)點。1)掃描電鏡能直接觀察較大體積樣品表面的三維立體結構,具有明顯的真實感,這就彌補了透射電鏡的不足,因為透射電鏡分辨率雖高,但樣品必須是...[繼續(xù)閱讀]

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超高真空的場發(fā)射式電鏡

    現(xiàn)在一般提到的STEM,主要是指Crewe等采用的場發(fā)射電子槍式的掃描透射電鏡。在SEM中限制分辨本領的是信噪比,因此電子束的強度不能太弱(SEM中的束流比TEM中的束流大好幾倍)。一般的發(fā)叉型鎢絲提供的極限亮度只能使分辨率達到2nm左...[繼續(xù)閱讀]

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附加在透射電鏡或掃描電鏡上的STEM

    這種STEM為附件型,一般附加在SEM或TEM上,其分辨率較低,如是透射電鏡附件型,分辨率一般可達1~1.5nm;如是掃描電鏡附件型,分辨率一般只有4~6nm。這種附件型STEM主要用于X射線能譜、波譜分析或電子損失譜分析,用以觀察元素的分布圖。...[繼續(xù)閱讀]

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第五節(jié) 高壓電子顯微鏡

    高壓電鏡通常是指加速電壓為200kV以上的透射電子顯微鏡。高壓電鏡首先是由法國建成的,加速電壓為1MV。目前世界上已建成了數(shù)臺3MV的高壓電鏡,美國正在籌建15MV的高分辨率超高壓電鏡,而日本正在建造一臺10MV的超高壓電鏡。高壓電...[繼續(xù)閱讀]

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第六節(jié) 低壓電子顯微鏡

    高壓電鏡的電子束具有很強的穿透力,因而能使樣品減少輻射損傷并能提高分辨率,但高壓電鏡使樣品的反差明顯減弱,這對生物樣品大為不利。因而人們提出了使樣品輻射損傷降低而反差增強的低壓電鏡(lowvoltageelectronmicroscope)。目前...[繼續(xù)閱讀]

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第七節(jié) 環(huán)境掃描電子顯微鏡

    在環(huán)境掃描電鏡出現(xiàn)以前,電鏡研究用的生物樣品均要經過固定、脫水等處理,以使電鏡光源——電子束在高真空中穿透或掃描樣品而成像。這種研究方法觀察到的生物樣品結構是死的、非實時的。因而,限制了電鏡在生物醫(yī)學中的應...[繼續(xù)閱讀]

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參考文獻

    [1]BozzolaJJ,RussellLD.ElectronMicroscopy.Principlesandtechniquesforbiologists[M].GonesandBartlett,Boston:1992.[2]EngelA,ColliexC.Applicationofscanningtransmissionelectronmicroscopytothestudyofbiologicalstructure[J].CurrOpinBiotechnol,1993,4(4):403-411.[3...[繼續(xù)閱讀]

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第一節(jié) 掃描探針顯微鏡簡介

    掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscope,SPM)是一類全新的顯微鏡的總稱。包括了十幾種類型:掃描隧道顯微鏡(scanningtunnelingmicroscope,STM),原子力顯微鏡(atomicforcemicroscope,AFM),掃描電容顯微鏡(scanningcapacitancemicroscope),掃描光子顯微鏡(scanningpho...[繼續(xù)閱讀]

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