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 原子力顯微鏡(AFM)的發(fā)展是近年來表面成像技術中最重要的進展之一,其原理是將探針裝在彈性微懸臂的一端,微懸臂的另一端固定,使針尖趨近樣品表面并與表面輕輕接觸(圖3-8)。由于針尖尖端原子與樣品表面原子之間存在著微弱的排 (共 1728 字) [閱讀本文] >>